寬帶2-16微米中遠紅外光束質量分析儀產品特點:· 自動化NUC集成快門14-bit ADC · 14 ms積分時間,脈沖測量重復頻率可達1kHz · 無需斬波器和TEC制冷 · 加套件可用于M2測量
metrolux BM3745 UV/VIS激光光束質量儀 metrolux激光光束分析儀可測量激光強度分布,范圍包括EUV,UV,VIS和NIR,光斑直徑從1µm - 100 mm,可按EN-ISO標準記錄和分析光束。 具有適合于分析光斑和光束位置以及用于均勻激光光束特點描述的各種軟件工具,可選附件便于協調脈沖激光器和單脈沖的測量。
UVM10 -UV光束質量分析儀$n metrolux激光光束分析儀可測量激光強度分布,范圍包括EUV,UV,VIS和NIR,光斑直徑從1µm - 100 mm,可按EN-ISO標準記錄和分析光束。$n 具有適合于分析光斑和光束位置以及用于均勻激光光束特點描述的各種軟件工具,可選附件便于協調脈沖激光器和單脈沖的測量。
Metrolux VIS-NIR 光束質量分析儀 產品簡介 metrolux激光光束分析儀可測量激光強度分布,范圍包括EUV,UV,VIS和NIR,光斑直徑從1µm - 100 mm,可按EN-ISO標準記錄和分析光束。 具有適合于分析光斑和光束位置以及用于均勻激光光束特點描述的各種軟件工具,可選附件便于協調脈沖激光器和單脈沖的測量。
FM系列焦斑質量分析儀 緊湊的探測器頭由一個CCD傳感器、一個集成的衰減器、一個近場透鏡和Beamlux Ⅱ高級分析軟件組成。功率與工作距離與適配的探測器選擇有關,詳見下方型號選擇表格。 大范圍波長可選,根據近場透鏡確保對大數值孔徑和高脈沖功率密度的光斑進行測量。